Österreichische Baunormen
Normdatenbank:
Dokumenten Nummer:
ÖVE/ÖNORM EN 62132-1
Klassifikation:
DC*N-E
Preisgruppe:
Preisgruppe 3205
Bezeichnung:
zitierte Normen:
OVE EN 62132-1 (2016 10 01)*OVE EN 62132-1 (2016 10 01)
ersetzte Normen:
identische Norm:
Registriert als:
Autor:
Komitee IT-EG Informationstechnologie, Telekommunikation und Elektronik
Referenz:
IEC 47A/923/CDV (2014 01) ,IDT*EN 62132-1 (2014 01) ,IDT
übersetzt in:
en
english text:
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions (IEC 47A/923/CDV)
Description:
francoise:
Normdatenbank:
Dokumenten Nummer:
ÖVE/ÖNORM EN 62132-1
Klassifikation:
ST*N
Preisgruppe:
Preisgruppe 19
Bezeichnung:
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe (IEC 62132-1:2006)
zitierte Normen:
OVE EN 62132-1 (2016 10 01)*OVE EN 62132-1 (2016 10 01)
ersetzte Normen:
ÖVE/ÖNORM EN 62132-1 (2004 04 01)
identische Norm:
Registriert als:
IEC 61000-4-3*IEC 61000-4-6
Autor:
Komitee IT-EG Informationstechnologie, Telekommunikation und Elektronik
Referenz:
IEC 62132-1 (2006) ,IDT*EN 62132-1 (2006 02) ,IDT
übersetzt in:
de
english text:
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions (IEC 62132-1:2006)
Description:
Dieser Teil von ÖVE/ÖNORM EN 62132 liefert allgemeine Informationen und Definitionen zur Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit integrierter Schaltungen (IC) gegen leitungsgeführte und abgestrahlte Störgrößen. Dieser Teil gibt auch eine Beschreibung der Messbedingungen, der Messeinrichtung und des spezifischen Mess-Aufbaus sowie der Messverfahren und des Inhalts der Messprotokolle. In Anhang A ist eine Tabelle zum Vergleich der Messverfahren angegeben, um die Wahl des entsprechenden Messverfahrens zu unterstützen. In diesem Dokument werden allgemeine Bedingungen beschrieben, die erforderlich sind, um eine quantitative Messgröße der Störfestigkeit von IC in einer einheitlichen Messumgebung zu erhalten. Zu erwartende kritische und die Messergebnisse beeinflussende Parameter werden in diesem Dokument beschrieben. Abweichungen von diesem Dokument sind explizit im Messprotokoll anzugeben. Die Messergebnisse können sowohl für Vergleichs- als auch andere Zwecke verwendet werden. Die Messungen der eingespeisten Spannungen und Ströme - in Verbindung mit dem Antwortverhalten der unter gesteuerten Bedingungen gemessenen IC - liefern für einen bestimmten Anwendungsfall Informationen über die mögliche Störfestigkeit eines IC gegen leitungsgeführte und abgestrahlte HF-Störgrößen.
francoise:
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions (CEI 62132-1:2006)